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Projektplenum: 04-V07-STP-2509 Entwurf eines Systems zur prozessbegleitenden Defekterkennung für Nanosäulenstrukturen - Details

Projektplenum: 04-V07-STP-2509 Entwurf eines Systems zur prozessbegleitenden Defekterkennung für Nanosäulenstrukturen - Details

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Allgemeine Informationen

Veranstaltungsname Projektplenum: 04-V07-STP-2509 Entwurf eines Systems zur prozessbegleitenden Defekterkennung für Nanosäulenstrukturen
Untertitel
Veranstaltungsnummer 04-V07-STP-2509
Semester SoSe 2025 - WiSe 2025/2026
Aktuelle Anzahl der Teilnehmenden 0
erwartete Teilnehmendenanzahl 4
Heimat-Einrichtung B.Sc. Systems Engineering
Veranstaltungstyp Projektplenum in der Kategorie Lehre
Art/Form Lehrprojekt
Englischsprachige Veranstaltung Nein
ECTS-Punkte 15 bzw. 17 (je nach Modul)

Räume und Zeiten

Kommentar/Beschreibung

Anmeldung im Stud.IP bis: 30.04.2025
Projektauftakt am: 06.05.2025
max. Gruppengröße: 4 Personen
Ansprechperson: Tajim Md Hasibur Rahman, t.rahman@bimaq.de

Oberflächen mit säulenförmigen Nanostrukturen weisen viele nützliche Eigenschaften auf und gelten als neuartiges Metamaterial. Diese Oberflächen werden mittels Nanoimprint-Lithografie hergestellt. Jede Nanosäule hat einen Durchmesser von ca. 100 nm, was unterhalb der Beugungsgrenze liegt, und ist gitterförmig angeordnet. Bei der industriellen Herstellung von Nanooberflächen entstehen durch Vibrationen während der Formgebung Defekte. Ein schnelles und robustes optisches Detektionssystem auf Basis von Lichtstreuung wurde realisiert, das defekte Nanostrukturen unterhalb der Beugungsgrenze erkennen kann. Der Versuchsaufbau für dieses Messprinzip umfasst eine Laserlichtquelle und einen Lichtdetektor zur Erfassung des gestreuten Lichts. Im Rahmen dieses Projekts wird der Versuchsaufbau für das zugrundeliegende Messprinzip entworfen und implementiert. Die Spezifikationen für Lichtquelle und Lichtdetektor werden finalisiert. Der Versuchsaufbau soll über Funktionen zur prozessbegleitenden Defekterkennung verfügen, d. h. er soll in der Inline-Produktion einsetzbar sein. Zur Steuerung des Gesamtsystems des Aufbaus muss ein Mikrocontroller programmiert und implementiert werden. Ein Rückkopplungssystem muss entwickelt und implementiert werden, um die Streulichtdaten kontinuierlich aufzuzeichnen und zu analysieren. Steuerungselemente wie Schrittmotoren können zur Steuerung des Aufbaus eingesetzt werden, um die zu untersuchende Probe gezielt anzusteuern. Das Endergebnis dieses Projekts ist die experimentelle Erkennung defekter Nanosäulenproben. Die erforderlichen Trainingsdaten werden bereitgestellt.

Anmeldemodus

Die Auswahl der Teilnehmenden wird nach der Eintragung manuell vorgenommen.

Nutzer/-innen, die sich für diese Veranstaltung eintragen möchten, erhalten nähere Hinweise und können sich dann noch gegen eine Teilnahme entscheiden.